过程能力图

“过程能力图”选项显示或隐藏能力-稳定性的四象限图。具有规格限的每个过程都由一个点来表示。若指定了过程重要性值，则会根据重要性调整点的大小。每个点的水平坐标等于过程的稳定性指标，每个点的垂直坐标等于过程的总 Ppk 能力。该图根据以下默认边界划分为四个着色象限：

• 超过 1.25 的稳定性指标指示过程不稳定。

• 小于 1.0 的 Ppk 指示过程能力不足。

此外，图上有一条红线指示 Cpk 值为 1 的位置。可以使用图右侧的“Ppk”和“稳定性指标”滑块控件调节定义四个象限的边界。您还可以在“文件”>“首选项”>“平台”>“过程性能图”和“文件”>“首选项”>“平台”>“过程能力”中设置所需的“能力和稳定性”边界和稳定性评估类型的首选项。

图例包含着色区域的说明。若有任何过程缺失下规格限或上规格限，图例还可以显示用于这些过程的标记。若图例中未显示标记，则图中所有过程都同时包含下规格限和上规格限。请参见单侧或缺失规格限。

将光标置于“过程性能图”中的某个点上以查看该过程的控制图。点击控制图以启动带有相应控制图和能力报表的“控制图生成器”。

注意：若将无偏合并标准差选作过程的组内变异统计量，则控制图不可用于该过程。

“过程能力图”红色小三角菜单包含以下选项：

添加点标签

显示或隐藏过程能力图中每个点的标签。

显示组内 Cpk 曲线

在“过程性能图”中显示或隐藏组内 Cpk 曲线。

过程能力图 

过程能力图 显示了在 Semiconductor Capability.jmp 样本数据表中使用晶片作为子组变量选择过程变量的“过程能力图”。

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