本例使用 Failure.jmp 样本数据表,其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因,以及每种类型缺陷出现的次数。为该示例指定的阈值为 2。
1. 选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Quality Control/Failure.jmp。
2. 选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图。
3. 选择失败并点击 Y,原因。
4. 选择数量并点击频数。
5. 选择合并原因阈值,然后选择计数。
6. 输入 2 作为阈值。
7. 点击确定。
阈值计数为 2 的 Pareto 图
阈值计数为 2 的 Pareto 图 显示在指定计数 2 后标绘的图。计数为 2 或小于 2 的所有原因都合并为标签为“4 其他”的最后一个直条。
8. 要将合并的直条分离成原因分离后的 Pareto 图 中所示的原始类别,请选择原因>分离原因。
原因分离后的 Pareto 图