この例では、「加速寿命試験計画」プラットフォームによって、既存の試験データに基づいて、新たな試験を追加する方法を紹介します。この例では、150 個のコンデンサーを3つの温度条件下（摂氏85度、105度、125度）で1500時間試験しました。結果は、「Capacitor ALT.jmp」サンプルデータテーブルに記録されています。試験結果から得られたモデルに基づき、通常の使用温度条件下（摂氏25度）で100,000時間試験した場合の累積故障確率を推定します。
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緑色の三角ボタンをクリックし、「寿命の二変量」テーブルスクリプトを実行します。
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「温度」の上の「105」をクリックし、「25」に変更します。
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「時間」の上の「750.5」をクリックし、「100,000」に変更します。
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図22.10 コンデンサモデルの「分布プロファイル」
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「因子名」に「温度」と入力します。
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「水準数」に「5」と入力します。
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「最低使用条件」と「最高使用条件」の両方に「25」と入力します。
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「最高試験条件」に「85」、「最低試験条件」に「125」と入力します。
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［続行］をクリックします。
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「温度 水準値」に「85」、「90」、「105」、「110」、「125」と入力します。
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「分布の選択」で［Weibull］が選択されていることを確認します。
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「事前平均」の下で［切片を指定］を選択します。「寿命の二変量」の「推定値」アウトラインの加速モデルパラメータ（「Weibull 結果」レポートの［統計量］タブにある）を入力します。
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「切片」に「-35.200」と入力します。
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「活性化エネルギー（温度）」に「1.389」を入力します。
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「尺度」に「1.305」と入力します。
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Weibull分布の加速寿命モデルにおいて、JMPでは、位置パラメータμおよび尺度パラメータσによって分布が表現されています。通常のαおよびβのパラメータ化に対しては、尺度パラメータはσ=1/βになっています。 第 “Weibull分布”を参照してください。
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「計画の設定」で、「試験期間」に「1500」と入力します。
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「試験で用いるユニット数」に「250」と入力します。
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設定後の計画の詳細ウィンドウは、入力を完了した「加速寿命試験計画」です。
図22.12 設定後の計画の詳細ウィンドウ
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［続行］をクリックします。
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この基準の詳細については、第 “故障確率最適計画の作成”を参照してください。
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［計画の作成］をクリックします。
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図22.13 最適計画
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図22.14 温度 = 25、時間 = 100000の分布プロファイル
