「測定システム分析」プラットフォームで提供されているEMP法は、Donald J. Wheelerの『EMP III Using Imperfect Data』（2006）に基づく手法です。 EMP法（Evaluating the Measurement Process: 測定プロセス評価）の結果はグラフが多く、解釈しやすくなっています。また、それらの結果に基づき、分析者は測定システムを改善できます。

「測定システム分析」プラットフォームでは、Gauge R&R分析も行えます。Gauge R&R分析でも、測定値のばらつきのうち、どの程度が測定者（再現性）に起因し、どの程度が繰り返し誤差（併行性）に起因するかを分析します。Gauge R&Rは、交差作用モデルと枝分かれモデルの多くの組み合わせで使用できます。また、データのバランス（釣合い）が取れていなくても使用できます。詳細については、「計量値用ゲージチャート」章（195ページ）を参照してください。

管理図の詳細は、「管理図ビルダー」（23ページ）を参照してください。