JMP 14.2オンラインマニュアル
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測定システム分析
EMP法による計量値の測定システム分析
「測定システム分析」プラットフォームは、測定システムの精度・一貫性・かたより(バイアス)を評価します。工程を分析する前に、工程が精確に測定されているかどうかを調べる必要があります。測定値のばらつき(変動)の大部分が測定そのものに起因しているとしたら、工程について確かなことを探り出すことはできません。そのため、あらかじめ、測定システム分析(MSA: Measurement System Analysis)を行って、測定システムの測定精度を調べる必要があります。
この章では、EMP分析(測定プロセス評価)だけを説明します。Gauge R&R分析については、
「計量値用ゲージチャート」
章(195ページ)
で解説しています。
図8.1
測定システム分析の例
目次
測定システム分析の概要
測定システム分析の例
「測定システム分析」プラットフォームの起動
「測定システム分析」プラットフォームのオプション
平均図
範囲図または標準偏差図
EMP分析
測定の有効桁数
変化検出プロファイル
バイアスの比較
繰り返し誤差の比較
測定システム分析の別例
測定システム分析の統計的詳細