シリコンウエハーの2つの生産ラインを管理しているとします。2つの生産ラインの不適合品率は差がないことが望ましいですが、これまでの経験から、片方の生産ラインは不適合品率が8%、もう片方は6%になるかもしれないということが想定されます。不適合品率がこの差になった場合に80%の検出力で検出するために必要な標本サイズを調べてみましょう。
1. [実験計画(DOE)]>[計画の診断]>[標本サイズ/検出力]を選択します。
2. [2標本割合]をクリックします。
3. 「Alpha」はデフォルトの「0.05」のままにしておきます。
4. 「割合1」として「0.08」を入力します。
5. 「割合2」として「0.06」を入力します。
6. 検定の種類には[両側]を選択します。
7. 「差の仮説値」として「0」を入力します。
8. 「標本サイズ1」と「標本サイズ2」は空白にしておきます。
9. 「検出力」として「0.8」を入力します。
10. [続行]をクリックします。
図17.13 2つの割合の差に対する両側検定
計算の結果から、生産ラインの不適合品率の差を検出するには、生産ラインごとに2,554個のウエハーをテストしなければならないことがわかります。