工程性能プロット
「工程性能プロット」オプションは、X軸に安定指数を、Y軸に工程能力指数をプロットした第4象限グラフの表示／非表示を切り替えます。各工程が、点で表されています。工程の重要度の値を指定した場合、点のサイズは重要度によって決まります。各点のX座標は、工程の安定指数です。各点のY座標は、全体シグマから計算されたPpkです。プロットは、次のようなデフォルトの閾値に従って、異なった色で塗られた4つの領域に分けられています。
• デフォルトでは、安定指数が1.25を超えると、「不安定」（unstable）とみなします。
• デフォルトでは、Ppkが1.0より小さいと、その工程は仕様に適合していない（not capable; 能力がない）とみなされます。
さらに、Cpkが1である位置を示す赤い線が描かれます。4象限を定義する閾値は、プロットの右側にある「Ppk」と「安定指数」のスライダによって変更できます。また、工程能力・安定比・安定指標のデフォルト値は、［ファイル］>［環境設定］>［プラットフォーム］>［工程能力性能プロット］と、［ファイル］>［環境設定］>［プラットフォーム］>［工程能力］で変更できます。
凡例には、色を塗られた各領域に対する説明が記載されています。いずれかの工程で上側仕様限界または下側仕様限界を欠いている場合、これらの工程で使用されるマーカーも凡例で説明されます。凡例にマーカーに対する説明がない場合は、プロットされているすべての工程に下側仕様限界と上側仕様限界があります。仕様限界が片側の場合、またはない場合を参照してください。
工程性能プロット内の点にポインタを置くと、その工程の管理図を確認できます。管理図をクリックすると、その管理図と工程能力レポートを含む管理図ビルダーが起動します。
メモ: 工程の群間変動の統計量として、プールした不偏標準偏差を選択した場合、その工程列の管理図は表示されません。
「工程性能プロット」の赤い三角ボタンをクリックすると、次のようなオプションが表示されます。
点にラベルを付ける
工程性能プロットの各点のラベルの表示／非表示を切り替えます。
群内Cpk曲線を表示
工程性能プロットで群内Cpk曲線の表示／非表示を切り替えます。
図7.18 工程性能プロット
図7.18は、「Semiconductor Capability.jmp」サンプルデータのいくつかの工程変数に対する工程性能プロットです。ここでは、群内シグマを求めるのに、「ウエハー」をサブグループ変数としています。