发布日期: 04/13/2021

Shewhart 计数控制图

在之前的各种图中,测量值数据均为过程变量。该数据往往是连续的,所以这些图基于适用于连续数据的原理。另一种类型的数据是计数数据或特征数据的水平计数,其中关注的变量是每个子组的缺陷数或瑕疵数的离散计数。离散计数数据适用于计数图,因为这些数据基于二项模型和 Poisson 模型。由于是按子组来测量计数,所以在比较各图时,确定各图之间的子组中项数是否相似这点很重要。计数图和计量图一样,按照在图上标绘的子组样本统计量来分类。

表 3.1 计数图确定 

用于计算 Sigma 的分布

统计量类型:比例

统计量类型:计数

二项

P 图

NP 图

Poisson

U 图

C 图

“控制图生成器”根据所选变量为您做出一些决策。一旦创建基本图表,即可使用菜单和其他选项来更改该图表的类型、统计量和格式。

P 图显示子组样本(大小可能会发生变化)中不合格(缺陷)项的比例。由于 P 图的每个子组都包含 Ni 项,而且任一项若非合格即为不合格,所以子组中的不合格项的最大数目为 Ni

NP 图显示子组样本中不合格(缺陷)项的数目。由于 NP 图的每个子组都包含 Ni 项,而且任一项若非合格即为不合格,所以子组 i 中的不合格项的最大数目为 Ni

C 图显示子组样本(通常但不一定总是包含一个检查单位)中不合格项(缺陷项)的数目。

U 图显示在可能包含不同数目检查单位的子组样本中,每个单位的不合格项(缺陷项)的数目。

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