合并原因阈值的示例

本例使用一个阈值将计数为 2 或小于 2 的原因组合为一个组合原因。本例中的数据表列出集成电路制作过程中失败的原因，以及每种类型缺陷出现的次数。

1. 选择帮助 > 样本数据文件夹，然后打开 Quality Control/Failure.jmp。

2. 选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图。

3. 选择失败并点击 Y，原因。

4. 选择数量并点击频数。

5. 选择合并原因阈值，然后选择计数。

6. 输入 2 作为阈值。

7. 点击确定。

图 15.7 阈值计数为 2 的 Pareto 图 

图 15.7 显示在指定计数 2 后标绘的图。计数为 2 或小于 2 的所有原因都合并为标签为“其他 4 个”的一个直条。

8. 要将合并的直条分离成图 15.8 中所示的原始类别，请选择标签为“其他 4 个”的直条。

9. 点击“图”红色小三角并选择选定原因 > 分离原因。

提示：或者，您可以右击标签为“其他 4 个”的直条并选择选定原因 > 分离原因。

图 15.8 原因分离后的 Pareto 图 

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