该帮助的版本不再更新,请参见https://www.jmp.com/support/help/zh-cn/15.2 获取最新的版本.


Semiconductor Capability.jmp 样本数据表包含 128 列过程测量值。每个列包含 1,455 个测量值。您想确定哪些过程不稳定。此外,每个列包含“规格限”列属性。若过程稳定,则适合计算过程能力。接下来针对该数据表您要评估过程的稳定性和能力。
1.
选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Semiconductor Capability.jmp
2.
选择分析 > 筛选 > 过程筛选
3.
选择 Processes 列组并点击过程变量
4.
点击确定
图 19.2 初始报表的部分视图
6.
右击选定的过程并选择选定项的快速图形
图 19.3 最高报警率过程的快速图形
您决定更仔细查看 IVP8(选定项的图形中的第 3 行,第 1 列)
8.
右击选定的过程并选择选定项的控制图
图 19.4 IVP8 的“控制图生成器”报表
将显示“控制图生成器”报表。因为 IVP8 有“规格限”列属性,该报表还包含能力分析。