JMP 14.2オンラインマニュアル
はじめてのJMP
JMPの使用法
基本的な統計分析
グラフ機能
プロファイル機能
実験計画(DOE)
基本的な回帰モデル
予測モデルおよび発展的なモデル
多変量分析
品質と工程
信頼性/生存時間分析
消費者調査
スクリプトガイド
スクリプト構文リファレンス
JMP iPad Help (英語)
JMP Interactive HTML (英語)
機能インデックス
JMP統計機能ガイド
このバージョンのヘルプはこれ以降更新されません。最新のヘルプは
https://www.jmp.com/support/help/ja/15.2
からご覧いただけます。
品質と工程
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測定システム分析
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「測定システム分析」プラットフォームのオプション
• 測定の有効桁数
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•
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測定の有効桁数
「測定の有効桁数」レポートは、測定の有効桁数を決めるのに役立ちます。有効桁数を増やしたり、逆に減らしたりする必要があるか、または、現在の桁数のままで良いかが表示されます。次の点を念頭に置いてください。
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「公算誤差」(probable error; 確率誤差、蓋然誤差)は、繰り返し誤差(の絶対値)の中央値です。
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「現在の測定単位」には、現在のデータから推察された測定単位が、10のべき乗で表示されます。この数値が、「最小有効測定単位」・「測定単位の下限」・「最大有効測定単位」と比較され、 有効桁数の提案がなされます。
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有効桁数を減らすと、測定値の最終桁における数字がもつ不確実さは減ります。しかし、数値を丸めたことによる誤差は大きくなります。一方、有効桁数を増やすと、数値の丸めによる誤差は小さくなります。しかし、測定値の最終桁における数字は、不確実さが増します。