JMP 14.2オンラインマニュアル
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実験計画(DOE)
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「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォーム
スクリーニング実験データの分析
「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームは、スクリーニング計画で得られた実験データを分析するためのプラットフォームです。このプラットフォームは、応答に大きな影響を及ぼしている効果を特定するのに役立ちます。
「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームは、効果の希薄性(effect sparsity)の原則に基づいています(Box and Meyer
1986
)。「効果の希薄性の原則」とは、調べている効果のうち、比較的少数のものだけが応答に影響しているという前提です。 もしも、ほとんどの効果が影響がなく、その真の影響が無視できるほど小さいなら、それらの推定値はランダムな誤差として分布します。
仮定するモデルに交互作用項がある場合、スクリーニング計画には誤差の自由度がないのが普通です。そのため、各効果の影響を判断するのに、従来の統計的検定が使えません。特にこのような状況において、「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームが役立ちます。
図10.1
「2水準スクリーニングのあてはめ」レポートの半正規プロット
目次
「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームの概要
「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームの例
「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームの起動
スクリーニングのレポート
対比
半正規プロット
モデルの作成または実行
2水準スクリーニング分析の別例
Plackett-Burman計画の分析
親子関係の例
過飽和実験計画の分析
「2水準スクリーニングのあてはめ」プラットフォームの技術的詳細
効果の追加順序
直交回転としての2水準スクリーニングのあてはめ
Lenthの擬似的標準誤差(PSE)
Lenthのt値