「故障原因の組み合わせ」プロットにおける点の表示／非表示を切り替えます。このプロット上にKaplan-Meier曲線を点でプロットするときには、中間点が使われます。［点の表示］を解除して点でプロットしないときには、中間点ではなく、通常のKaplan-Meier推定値が使われます。
のプロファイルを表示します。信頼区間を求めるには、まず、「平均余寿命の計算」で［設定］オプションを選択します。［ブートストラップ法により信頼区間も求める］にチェックマークをつけます。計算にかかる時間を考えて、適切な値を入力してください。詳細は、第 “競合原因分析での平均余寿命の計算”を参照してください。
このコマンドは、Bayes推定を選択し、［モデルの更新］を適用した場合にのみ表示されます。
Bayes推定やWeibayesによって故障原因の分析を行った場合、「分布プロファイル」に表示される累積確率に対する信頼限界は、パラメトリックなブートストラップによって算出されます。このオプションは、ブートストラップの標本サイズを指定します。第 “競合原因分析でのBayes推定”を参照してください。
以下のオプションについて詳しくは、『JMPの使用法』の「JMPのレポート」章を参照してください。
「原因ごとの部分分布」には、時間tまでにおいて各原因によって故障する累積確率の推定値
が示されます。この故障確率は、競合する他の原因による故障も考慮して算出されています。第 “競合原因分析モデル”を参照してください。
が示されます。この故障確率は、競合する他の原因による故障も考慮して算出されています。第 “競合原因分析モデル”を参照してください。部分分布（subdistribution）のグラフを表示するには、「競合原因分析」の赤い三角ボタンをクリックし、［部分分布の表示］を選択します。選択すると、プロファイルの下に「原因ごとの部分分布」レポートも表示されます。このレポートは、プロファイルと、計算のためのパネルで構成されています。
メモ: ［部分分布の表示］を選択すると、「故障原因の組み合わせ」プロットも更新されて、すべての原因の部分分布関数が描画されます。