測定システム分析

EMP法による計量値の測定システム分析

「測定システム分析」プラットフォームは、測定システムの精度・一貫性・かたより（バイアス）を評価します。工程を分析する前に、工程が精確に測定されているかどうかを調べる必要があります。測定値のばらつき（変動）の大部分が測定そのものに起因しているとしたら、工程について確かなことを探り出すことはできません。そのため、あらかじめ、測定システム分析（MSA: Measurement System Analysis）を行って、測定システムの測定精度を調べる必要があります。

この章では、EMP分析（測定プロセス評価）だけを説明します。Gauge R&R分析については、計量値用ゲージチャートで解説しています。

図4.1 測定システム分析の例 

目次

測定システム分析の概要

測定システム分析の例

「測定システム分析」プラットフォームの起動

データ形式

「測定システム分析」プラットフォームのオプション

平均図

範囲図または標準偏差図

EMP分析

測定の有効桁数

変化検出プロファイル

バイアスの比較

繰り返し誤差の比較

測定システム分析の別例

測定システム分析の統計的詳細

級内相関と公算誤差の計算