管理図は、主要な変数の把握に役立ち、工程が統計学的な見地から管理状態にあるか、管理状態から逸脱しているかを示します。第3章「管理図ビルダー」および第4章「統計的管理図」では、対話式の管理図プラットフォーム「管理図ビルダー」の紹介も含め、JMPで管理図を作成する方法について説明します。第5章「CUSUM(累積和)管理図」では、累積和管理図に基づく意思決定を説明しています。工程に生じる小さなシフトを検出したい場合は、第6章「VマスクCUSUM管理図」をご覧ください。工程における複数の特性を同時に監視したい場合は、第7章「多変量管理図」をご覧ください。

「測定システム分析」プラットフォームは、測定システムの精度・一貫性・バイアス（偏り）を評価します。工程を分析する前に、まずは工程が精確に測定されているかどうかを調べる必要があります。観測値のばらつきのほとんどが測定によるものだったら、工程について確かなことを探り出すことはできません。そのため、あらかじめ、測定システム分析を行って、測定精度を調べる必要があります。詳細は、第8章「測定システム分析」を参照してください。

「計量値/計数値ゲージチャート」プラットフォームでは、計量値用ゲージチャートや計数値用ゲージチャートを作成します。計量値用ゲージチャートでは、連続量の測定値を分析し、システムの精度を把握できます。計数値用ゲージチャートでは、カテゴリカルな測定値を分析し、応答間の一致性を調査できます。なお、このプラットフォームは、測定システムの分析だけではなく、一般的なデータに見られるばらつきを調べることもできます。詳細については、第9章「計量値用ゲージチャート」および第10章「計数値用ゲージチャート」をそれぞれ参照してください。

「工程能力分析」プラットフォームは、仕様限界（規格限界）内に製品が作られているかどうかを調べます。中心とばらつきによって分布を要約し、それらを仕様限界と比較します。このプラットフォームでは、長期と短期のばらつきに基づいて工程能力指数を計算します。仕様限界とばらつきを比較して評価するので、適合率の改善に役立ちます。詳細は、第11章「工程能力」を参照してください。

「パレート図」プラットフォームは、品質上の問題が発生する頻度（度数）を調べます。度数を把握し、早急に対処が必要な問題を見極めることができます。詳細は、第12章「パレート図」を参照してください。

「特性要因図」プラットフォームでは、問題の原因を整理するのに役立つ特性要因図を作成できます。特性要因図は、ミーティングで意見を出し合うときや、実験の準備段階で必要な変数を認識するときなどに使います。特性要因図で変数を取り上げた後、実験や分析を行って要因を特定します。詳細は、第13章「特性要因図」を参照してください。