製品の信頼性が非常に高いと、通常の使用条件では、故障がなかなか発生せず、故障が起こるまでにとてつもない時間がかかります。そこで、通常の使用条件より過酷な条件で製品を試験することが行われます。過酷な条件で製品を試験すると、製品が速く劣化し、より短時間で故障します。そのような過酷な条件での故障データに基づいて、通常の使用条件での製品の故障確率を予測することが行われています。
「加速寿命試験計画」プラットフォームを使用すると、加速寿命試験(ALT; accelerated life testing)の実験計画を作成できます。新たな試験を計画したり、既存の試験に対する追加試験を計画したりできます。
図22.1 ALT実験の故障確率を示すプロファイル